Beamline-Instrumentation: Kompakter Lineartisch positioniert Röntgendetektoren zur Analyse der Wechselwirkungen von FEL-Synchrotronstrahlung mit Materie

Ein Lineartisch von PI miCos bewegt die Forschung: Experimente mit intensiven Röntgenlaserpulsen stellen hohe Anforderungen an die Komponenten des Experimentaufbaus, denn Wissenschaftler untersuchen hier Prozesse, die sich auf molekularer Ebene im Femtosekundenbereich... weiterlesen →

Elmos: Antennen-Schutz auf kleinstem Raum

E522.40 für duale Phantom Versorgung mit I2C-Schnittstelle

Elmos stellt mit dem IC E522.40 einen dualen Antennen-Schutz-IC mit sehr kompakten Abmaßen vor. Der Halbleiter ermöglicht einen Schutz des Antennen-Systems gegen ESD, Erd- und Batterie-Kurzschluss sowie gegen Überhitzung des ICs. Die I2C-Schnittstelle... weiterlesen →

Charakterisierung von Nanostrukturen und nanoskaligen Systemen mit dem JPK NanoWizard® AFM in der Gruppe von Prof. Giovanni Dietler an der EPFL, Lausanne

JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet über die Untersuchung von Nanostrukturen und nanoskaligen Systemen mit dem NanoWizard® Rasterkraftmikroskop... weiterlesen →