Bestimmung von strukturellen, chemischen, optischen und elektronischen Materialeigenschaften auf Nanometerebene mit dem JPK NanoWizard® AFM an der Universität Swansea
JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik- Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet über den Einsatz des NanoWizard® Rasterkraftmikroskops (englisch Atomic Force Microscope - AFM) am Institut... weiterlesen →