JPK Instruments stellt das OT-AFM Kombisystem vor – das weltweit erste System, das Rasterkraftmikroskopie und Optical-Tweezers-Technologie kombiniert
JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nano-analytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, gibt die Marktein-führung des weltweit ersten Systems bekannt, das Optical-Tweezers-Technologie (OT - optische Pinzette)... weiterlesen →