Charakterisierung von Nanostrukturen und nanoskaligen Systemen mit dem JPK NanoWizard® AFM in der Gruppe von Prof. Giovanni Dietler an der EPFL, Lausanne

JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet über die Untersuchung von Nanostrukturen und nanoskaligen Systemen mit dem NanoWizard® Rasterkraftmikroskop... weiterlesen →