Archiv der Kategorie: Allgemein
Einfache Integration von Piezokomponenten mit flexiblen Leiterkarten
Die passgenaue Integration von Piezokomponenten in die Anwendung ist immer ein wichtiger Teil des Gesamtprodukts. Damit die Integration für den Kunden so leicht wie möglich geschieht, bietet PI Ceramic jetzt auf Anfrage Piezoelemente auch mit flexiblen... weiterlesen →
Easy Integration of Piezo Components with Flexible Printed Circuits
Einfache Integration von Piezokomponenten mit flexiblen Leiterkarten
Robuster PCIe-Mini-Card-Carrier auf CompactPCI Serial
2 PCI-Express-Mini-Card-Slots für LTE, UMTS, GSM, HSPA
2 Antennen-Stecker pro Modul (Reverse SMA)
1 PCI-Express-Mini-Card-Slot für WLAN, GPS, virtuelle SIM-Karte oder Audio-Signale
10 Micro-SIM-Karten-Steckplätze
Remote-Software zur separaten Ansteuerung... weiterlesen →
Elmos: Ergebnisverbesserung im zweiten Quartal 2016
Prognose bestätigt – Umsatz- und Ergebnissteigerung im 2. Halbjahr 2016 erwartet
Die Elmos Semiconductor AG (FSE: ELG) erzielte im zweiten Quartal einen Umsatz in Höhe von 55,0 Mio. Euro (Q2 2015: 54,3 Mio. Euro). Der Umsatz mit Asien stieg überproportional mit 16,2%. Die Ergebnisse konnten erwartungsgemäß gegenüber dem Vorquartal... weiterlesen →SMI: SM5G AccuStable™-Sensor Serie im neu entwickelten, extra kleinen Relativdruck-Gehäuse
Druckbereiche von 5 PSI bis zu 80 PSI - SO8 Gehäuse mit Anschluss-Port
SMI (Silicon Microstructures, Inc.), ein Tochterunternehmen der Elmos Semiconductor AG, präsentiert einen neuen Relativdruck-Sensor. Die SM5G-Serie verwendet die AccuStable™-Technologie, die für besonders hohe Langzeit-Stabilität steht. Der piezoresistive... weiterlesen →Das JPK NanoWizard® Rasterkraftmikroskop in der interdisziplinären Forschung an der University of South Australia: Untersuchung von in-telligenten Wundheilungskonzepten bis hin zu Giftresistenzen bei Pflanzen
JPK Instruments, ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten für den "Life Sciences"- und "Soft Matter"-Bereich, berichtet über den Einsatz des NanoWizard® Rasterkraftmikrokops (engl. Atomic Force Microscope – AFM) an der University... weiterlesen →
Extrem agile Fertigungsprozesse verifizieren für Industrie 4.0
So behält die Fertigung eine sich ständig ändernde Prozesslandschaft fest im Griff weiterlesen →
Verify extremely agile manufacturing processes for Industry 4.0
Keeping the change of processes under control weiterlesen →