JPK Instruments stellt das neue Accessories Handbook for SPM vor

Veröffentlicht am von
Pressemeldung der Firma JPK Instruments AG

JPK Instruments als einer der weltweit führenden Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten im Bereich Life Sciences und Soft Matter, informiert über das neue Accessories Handbook für die SPM-Gerätefamilie.

Modularität ist heutzutage einer der wichtigsten Parameter bei der Auswahl von Instrumenten für den Laborbedarf. Um auch speziellen Ansprüchen bei der Nutzung der Systeme für jeden Benutzer zu genügen, stellt JPK Instruments eine Vielfalt an Zubehör bei einem relativ geringen Kapitalaufwand zur Verfügung. Damit können die jeweiligen eigenen Anforderungen in der Forschungsarbeit oder auch in der Routineanalytik bedient werden.

Die SPM-Lösungen der JPK-Familie stehen dem Anwender seit über zehn Jahren zur Verfügung. Um allen Anforderungen gerecht zu werden und um immer in der Lage zu sein, neue Funktionen hinzufügen zu können, hat JPK Instruments die neueste Palette von Zubehör in einem 20-seitigen Handbuch sowohl in digitaler und gedruckter Form veröffentlicht. Das Handbuch bietet dem Anwender neue Möglichkeiten für NanoWizard®, ForceRobot® und CellHesion®-Systeme.

Vier der neuen Optionen sind besonders erwähnenswert. Das Advanced Kraftspektroskopie- Software-Modul bietet dem Anwender eine offene und flexible Software, die fortschrittliche Kraftmessungen z.B. von Protein- und DNA-Entfaltungs-Stretching-Experimenten bis hin zur Untersuchung von Zellen und Geweben ermöglicht. Dies verbindet sich gut mit dem ExperimentPlanner(TM) -Software-Modul, welches dem Benutzer erlaubt, einzigartige experimentelle Protokolle zu entwerfen unter voller Kontrolle der System-Parameter. Zum Beispiel kann der Benutzer Master-Kontroll-Elemente im System, wie Scanner, Motoren, Lichtquellen, Detektoren und Umwelt-Kontroll-Fähigkeiten, mit einschließen.

Das neu entwickelte QI(TM) Advanced Software-Modul für NanoWizard-Systeme wurde entwickelt, um AFM Bilder noch einfacher aufzunehmen als je zuvor – perfekt für selbst schwierigste Proben. Dazu gehören weiche, klebrige und spröde Proben, die im biologischen und materialwissenschaftlichen Anwendungsbereich vorkommen. Es ist einfach diesen fortschrittlichen Modus zu erlernen, um auch Daten über Adhäsion, Steifigkeit und Dissipation in Echtzeit während des Scannens zu erhalten. Der Betrieb unter speziellen Umgebungsbedingungen oder in Flüssigkeiten geht problemlos. Weiterhin kann man Informationen über elektrische Leitfähigkeit oder molekulare Erkennung während des Scans erhalten (probenabhängig).

Elektrische Messungen erfordern eine spezifische Probenkontaktierung und in Kombination mit hochauflösender optischer Mikroskopie, spezielle leitfähige Deckgläschen als Probensubstrat. Ein neuer CoverslipHolder mit elektrischer Probenkontaktierung ist nun für elektrische Messungen verfügbar, wie Conductive-AFM oder STM in Kombination mit High- NA Optik. Integrierte optische Systeme sind schon immer ein Markenzeichen von JPK und dieses Zubehör macht dabei keine Ausnahme von diesem Angebot, welches für ein breites Spektrum an Anwendungen verwendet werden kann.

JPK Instruments entwickelt, konstruiert und fertigt Instrumente in Deutschland zu weltweit anerkannten Standards der deutschen Feinmechanik, Qualität und Funktionalität. Für weitere Einzelheiten über das Zubehör-Handbuch und weitere Produkte besuchen Sie uns auf der JPK Webseite www.jpk.com oder auf Facebook www.facebook.de/….



Firmenkontakt und Herausgeber der Meldung:
JPK Instruments AG
Bouchéstr. 12
12435 Berlin
Telefon: +49 (30) 533112070
Telefax: +49 (30) 533122555
http://www.jpk.com

Ansprechpartner:
Claudia Böttcher (E-Mail)
Marketing
+49 (30) 533112070

Die JPK Instruments AG ist ein weltweit führender Hersteller von Nanoanalytik-Instrumenten, mit denen ein bisher nicht dagewesener Zugang auf Nanotechnologie-Ebene ermöglicht wird. 2007 und 2008 wurde JPK von Deloitte als das am schnellsten wachsende Unternehmen auf dem Sektor der Nanotechnologie in Deutschland ausgezeichnet. Das Produktportfolio umfasst insbesondere rasterkraftmikroskopische Systeme (AFM) und optische Pinzetten (Optical Tweezers), mit einem breiten Anwendungsspektrum von der Soft Matter Physik bis zur Nanooptik, von der Oberflächenchemie bis hin zur Zell- und Molekularbiologie. Aufgrund ihres technologischen Vorsprungs werden JPK-Instrumente in den renommiertesten Forschungsinstituten weltweit eingesetzt. Das Unternehmen hat seinen Hauptsitz in Berlin sowie weitere Standorte in Dresden, Cambridge (UK), Singapur, Tokio (Japan) und Paris (Frankreich). Mit seinem globalen Vertriebsnetz und mehreren Support Centern betreut JPK die kontinuierlich wachsende Zahl von Anwendern mit ganzheitlichen Lösungen und erstklassigem Service direkt vor Ort.


Weiterführende Links

Für die oben stehende Pressemitteilung ist allein der jeweils angegebene Herausgeber (siehe Firmenkontakt oben) verantwortlich. Dieser ist in der Regel auch Urheber des Pressetextes, sowie der angehängten Bild-, Ton-, Video-, Medien- und Informationsmaterialien. Die Huber Verlag für Neue Medien GmbH übernimmt keine Haftung für die Korrektheit oder Vollständigkeit der dargestellten Meldung. Auch bei Übertragungsfehlern oder anderen Störungen haftet sie nur im Fall von Vorsatz oder grober Fahrlässigkeit. Die Nutzung von hier archivierten Informationen zur Eigeninformation und redaktionellen Weiterverarbeitung ist in der Regel kostenfrei. Bitte klären Sie vor einer Weiterverwendung urheberrechtliche Fragen mit dem angegebenen Herausgeber. Eine systematische Speicherung dieser Daten sowie die Verwendung auch von Teilen dieses Datenbankwerks sind nur mit schriftlicher Genehmigung durch die Huber Verlag für Neue Medien GmbH gestattet.